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Soutenance de thèse par Alexis DIVAY

Étude de la fiabilité à long terme des transistoirs HEMT à base de GaN.

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Informations pratiques :

Date de l'évènement : le 30 octobre 2015
à 10h00
Lieu(x) : Site du Madrillet
Laboratoire GPM

Publié le 15 octobre 2015

mise à jour le 17 octobre 2016



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