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Soutenance de thèse par M. Constantinos HATZOGLOU

Quantification et correction des biais inhérents à l'analyse par sonde atomique tomographique des nanoparticules d'un acier ODS : Application à l'étude de leur formation et à leur comportement sous irradiation.

Informations pratiques :

Date de l'évènement : le 15 juillet 2015
à 14h00
Lieu(x) : Site du Madrillet
au laboratoire GPM

Publié le 1 juillet 2015

mise à jour le 17 octobre 2016



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