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Soutenance de thèse par M. Feiyi ZHU

Fiabilité des composants soumis à des stress électriques conduits.

Informations pratiques :

Date de l'évènement : le 18 septembre 2015
à 10h30
Lieu(x) : Technopôle du Madrillet. ESIGELEC


Publié le 1 septembre 2015

mise à jour le 17 octobre 2016



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