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Soutenance de thèse par M. Niemat MOULTIF

Analyse de défaillance dans les transistors de puissance grand gap par électroluminescence spectrale

Informations pratiques :

Date de l'évènement : le 22 septembre 2017
à 10h00
Lieu(x) : Site du Madrillet
UFR Sciences et Techniques - GPM 

Publié le 27 septembre 2017

mise à jour le 27 septembre 2017



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